原文轉載于賽默飛公眾號： 賽默飛材料與結構分析中國
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2021年7月23日，賽默飛聯合多家科研機構共同舉辦的“2021全國表面分析方法及新材料表征研討會”于長春成功召開，會議邀請了眾多國內外專家共同交流XPS、拉曼、電鏡等分析手段在表面分析領域的最新研究進展及應用。
召開期間，賽默飛于大會現場正式發布了全新一代Thermo Scientific™ Nexsa™ G2 X 射線光電子能譜儀。中科院長春應化所逯樂慧副所長、中山大學陳建教授、清華大學姚文清教授、中科院大連化物所盛世善研究員、中科院化學研究所劉芬研究員、賽默飛材料與結構分析業務高級商務總監陳廳行，共同參與了新品揭幕儀式，宣告Nexsa G2在中國的正式閃亮登場！
同時此次大會還進行了同步直播，線上的近600名觀眾同我們一起見證了Nexsa G2的中國區發布！
揭幕儀式后我們很榮幸的邀請到了賽默飛表面分析全球市場發展總監Richard G. White為大會進行新品介紹。Richard表示：當今表面和界面分析充滿了挑戰，需要一款儀器能夠為后續的研發改進提供可靠的結果。Thermo Scientific™ Nexsa™ G2 表面分析系統是一款高性能 X 射線光電子能譜儀，在保證數據質量和樣品測試通量的同時，集成了其他分析技術。希望能夠為中國科研及工業發展做出貢獻！
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